產品名稱：ACT1200晶體管動態特性測試系統

產品介紹：

    ACT1200 型晶體管動態特性測試系統，是一款主要面向“單管級器件”用戶服務的測試設備，可實現對 Si 基及 SiC/GaN（選配）材 料的 IGBT、MOS-FET、Diode、BJT 的多種動態參數的精確測試，測試原 理符合國軍標。 

    能夠測試測試的參數包括開通時間、關斷時間、上升時間、下降時間、導通延遲時間、關斷延 遲時間、開通損耗、關斷損耗、柵極總 電荷、柵源充電電量、平臺電壓、反向恢復時間、反向恢復 充電電量、反向恢復電流、反向恢復損耗、反向恢復電流變化率、反向恢復電 壓變化率、輸入電容、輸出電容、反向轉移電容、短路等等。 

    通過更換不同測試單元（簡稱 DUT）以達到對應的測試項目，通過軟件切換可以選擇測試單元、測試項目及配置測試參數、 讀取保存 測試結果。系統集成度高，性能穩定，具有升級擴展潛能和良好的人機交互。 

    該測試系統是由我公司技術團隊結合半導體功率器件測試的多年經驗，以及眾多國內外測試系統產品的熟悉了解后，完全自主開發設計 的全新一代“晶體管動態特性手動測試平臺”。軟件及硬件均由團隊自主完成。這就決定了這款產品的功能性和可靠性以及擴展性能夠得到 持續完善和不斷的提升。為從事功率半導體產業的測試用戶奉上一款優秀產品。